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森国科恳求超结MOSFET器件及制备圭臬专利, 提简陋结MOSFET器件的可靠性和融会性

2024-12-23 09:45    点击次数:69

  

金融界2024年12月21日音信,国度常识产权局信息瓦解,深圳市森国科科技股份有限公司恳求一项名为“一种超结MOSFET器件及制备圭臬”的专利,公开号CN119153531A,恳求日历为2024年11月。

专利摘抄瓦解,本发明波及MOSFET器件期间鸿沟,尤其波及一种超结MOSFET器件及制备圭臬,该器件包括:衬底、M层外延层、甘休层、阱区、源极金属层、栅极和漏极金属层;M层外延层位于衬底之上;甘休层位于M层外延层之上甘休层内的独揽两个区域差别设有一个阱区;源极金属层和栅极均位于甘休层之上,杨方优配源极金属层位于阱区之上,栅极位于源极金属层之间,且栅极隐蔽阱区之间的拒绝区域和阱区的部分区域,漏极金属层位于衬底之下;每层外延层设有浮空P+区,每层外延层的浮空P+区与一个阱区对应开导,相邻两层外延层的浮空P+区为交错开导。该器件提简陋结MOSFET器件的可靠性和融会性,使器件具有更好的雪崩耐量,更低的导通电阻。

本文源自:金融界



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